特性 | 开路漏极 | 安装类型 | 表面贴装型 |
逻辑电平 - 高 | 1.5V ~ 4.2V | 不同 V、最大 CL 时最大传播延迟 | 23ns @ 6V,50pF |
工作温度 | -40°C ~ 85°C | 电流 - 静态(最大值) | 2µA |
逻辑电平 - 低 | 0.5V ~ 1.8V | 电压 - 供电 | 2V ~ 6V |
输入数 | 2 | 逻辑类型 | 与非门 |
电流 - 输出高、低 | -,5.2mA | 电路数 | 4 |
SN74HC03DR是一款由德州仪器(Texas Instruments,简称TI)生产的高性能数字逻辑集成电路,具体为开路漏极的与非门(NAND Gate)。该产品采用14-SOIC封装形式,尤其适合需要高密度集成的表面贴装(SMD)应用。此与非门具有两个输入和四个独立通道,广泛适用于各种数字电路中,特别是需要进行逻辑运算和信号反相的场合。
逻辑类型及输入数:
开路漏极输出:
电源和逻辑电平范围:
最大传播延迟与电流特性:
工作温度范围:
SN74HC03DR广泛应用于各类数字电路中,包括但不限于以下几个领域:
开关电源:
逻辑电路设计:
数据通信:
工业控制系统:
SN74HC03DR是一款高性能的与非门,提供开路漏极输出,可在多种电压下运行,适用于多种逻辑功能的应用。其优越的速度、低功耗和宽广的工作温度范围,使其成为现代电子设计中的理想选择。无论是在消费电子,工业自动化还是数据通信领域,SN74HC03DR都能为设计工程师提供强大而灵活的解决方案。借助德州仪器的先进技术,这款IC无疑将为应用的性能和可靠性提供有力支持。