NVTFS5116PLWFTAG 产品实物图片
NVTFS5116PLWFTAG 产品实物图片
注:图像仅供参考,请参阅产品规格

NVTFS5116PLWFTAG

商品编码: BM0209595859
品牌 : 
ON(安森美)
封装 : 
WDFN-8
包装 : 
编带
重量 : 
1g
描述 : 
场效应管(MOSFET) 3.2W 60V 6A 1个P沟道 WDFN-8(3x3)
库存 :
0(起订量1,增量1)
批次 :
-
数量 :
X
7.94
按整 :
圆盘(1圆盘有1500个)
合计 :
¥0
梯度
内地(含税)
香港
1+
¥7.94
--
100+
¥6.85
--
750+
¥6.53
--
22500+
产品参数
产品手册
产品概述

NVTFS5116PLWFTAG参数

制造商ON Semiconductor包装卷带(TR)
零件状态有源FET 类型P 通道
技术MOSFET(金属氧化物)25°C 时电流 - 连续漏极 (Id)6A(Ta)
驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On)4.5V,10V不同 Id、Vgs 时导通电阻(最大值)52 毫欧 @ 7A,10V
不同 Id 时 Vgs(th)(最大值)3V @ 250µAVgs(最大值)±20V
功率耗散(最大值)3.2W(Ta),21W(Tc)工作温度-55°C ~ 175°C(TJ)
安装类型表面贴装型供应商器件封装8-WDFN(3.3x3.3)
封装/外壳8-PowerWDFN漏源电压(Vdss)60V
不同 Vgs 时栅极电荷 (Qg)(最大值)25nC @ 10V不同 Vds 时输入电容 (Ciss)(最大值)1258pF @ 25V
基本产品编号NVTFS5

NVTFS5116PLWFTAG手册

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NVTFS5116PLWFTAG概述

产品概述:NVTFS5116PLWFTAG

一、基本信息

NVTFS5116PLWFTAG 是一款由 ON Semiconductor(安森美)制造的 P 沟道MOSFET(场效应管),采用先进的金属氧化物半导体技术(MOSFET)。该器件属于高性能电源管理领域,主要应用于开关电源、DC-DC 转换器、马达驱动以及其他需要高效能和高密度的电子设备中。其型号 NVTFS5116PLWFTAG 提供了卓越的电气性能和宽广的工作温度范围,适合严苛环境下的应用。

二、技术参数

  1. 额定电流和电压

    • 该 MOSFET 在 25°C 环境下具有连续漏极电流(Id)达到 6A,能够在高负载条件下稳定运行。
    • 最大漏源电压(Vds)为 60V,使其适合用于多种电压级别的电源管理应用。
  2. 导通电阻

    • 在 10V 的栅极驱动电压下,导通电阻(Rds(on))最大值为 52 毫欧 @ 7A,提供了较低的导通损耗,提升了能效。
  3. 栅极阈值电压

    • 栅极阈值电压(Vgs(th))最大值为 3V,适合低电压驱动应用,确保能在较低的栅极电压下开启。
  4. 功率耗散

    • 该器件在环境温度下的最大功率耗散为 3.2W,而在结温(Tc)下则可达到 21W,适用于高功率密度的设备设计。
  5. 工作温度范围

    • NVTFS5116PLWFTAG 的工作温度范围广泛,从 -55°C 至 175°C,适应各种严苛的环境条件,尤其适合工业和汽车应用。
  6. 封装与安装类型

    • 采用 8-WDFN(3.3x3.3)封装,属于表面贴装型(SMD),适合现代电子设备的紧凑型设计,提高了散热性能和电路密度。
  7. 驱动电压与电荷特性

    • 驱动电压有 4.5V 和 10V 两种选择,适应不同系统的需求。
    • 栅极电荷(Qg)在 10V 状态下最大值为 25nC,确保快速开关响应,适合高频开关应用。
  8. 输入电容

    • 在 25V 时输入电容(Ciss)最大值为 1258pF,良好的电容特性使其在动态开关操作中表现出色。

三、应用领域

NVTFS5116PLWFTAG 主要用于以下领域:

  • 计算机和通信设备:在开关电源和稳压电源中提供高效率的电力转换。
  • 工业自动化:作为驱动元件用于马达控制和其他自动化设备中。
  • 汽车电子:适应汽车环境的严苛要求,用于电源管理模块、马达驱动和 LED 照明控制等应用。
  • 消费电子:在各种便携式设备、充电器和电源适配器中用于高效电源转换。

四、总结

在现代电子设计中,能够有效处理电能的元器件变得愈加重要。NVTFS5116PLWFTAG P 沟道 MOSFET 以其强大的电流承载能力、低导通电阻、高功率处理能力及宽广的应用温度范围,成为各种高性能电源和驱动系统的理想选择。这款 MOSFET 不仅提升了产品的整体效率,还有助于提升系统的稳定性和可靠性,是推进电子设备进步的重要基础器件。