特性 | 开路漏极 | 安装类型 | 表面贴装型 |
逻辑电平 - 高 | 1.5V ~ 3.85V | 不同 V、最大 CL 时最大传播延迟 | 7.5ns @ 5V,50pF |
工作温度 | -55°C ~ 125°C | 电流 - 静态(最大值) | 1µA |
逻辑电平 - 低 | 0.5V ~ 1.65V | 电压 - 供电 | 2V ~ 5.5V |
输入数 | 2 | 逻辑类型 | 与门 |
电流 - 输出高、低 | -,8mA | 电路数 | 1 |
SN74AHC1G09DCKR 是德州仪器(Texas Instruments)推出的一款高度集成的 CMOS 与门(AND Gate)逻辑芯片。该器件采用开路漏极(Open-Drain)输出特性设计,旨在满足多种数字电路的需求。此芯片在广泛的电压范围内工作,并结合高速度和低功耗的特点,非常适合需要低电平逻辑和高电压兼容性的应用。
SN74AHC1G09DCKR 具有广泛的应用场景,适用于数字电路设计和嵌入式系统。它能够在多种行业中发挥作用,包括但不限于:
SN74AHC1G09DCKR 的电气特性使其在复杂电路中表现出色。尤其是规定的高和低逻辑电平范围,使得器件能够在不同的逻辑电平系统间进行有效的信号转换,极大地提高了设计的灵活性。此外,开路漏极输出能够直接驱动大负载或与多个微控制器直接连接,只需在负载侧提供适当的上拉电阻。
SN74AHC1G09DCKR 是一款性能优越、设计灵活的开路漏极与门逻辑芯片,具有广泛的应用潜力和卓越的电气特性。凭借其低功耗、高电压兼容性以及极小的封装体积,适合当今对空间和能效要求日益增加的电路设计。无论是用于新产品开发还是替代方案,SN74AHC1G09DCKR 都是电子工程师的一款理想选择。